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**IPM Ionisations Profil Monitor**

Ein IPM (Ionisations Profil Monitor) wird verwendet um das Profil des Teilchenstrahls in Kreisbeschleunigern zu messen. Das Profil liefert Informationen, wie Form, Breite und Position. Wird das Profil mehrfach während des Betriebes gemessen, so sind auch zeitliche Änderungen des Profiles, bzw. des Teilchenstrahles zu sehen. Da der IPM das Profil aus einer Projektion des Teilchenstrahles gewinnt, wird nur das Profil einer einzelnen transversalen Richtung gemessen. Deshalb ist es sinnvoll, 2 IPMs hintereinander zu platzieren, wobei dann jeweils das horizontale und das vertikale Profil aufgenommen werden. Die Profilmessung via IPM ist ein strahlerhaltendes Meßverfahren, bei dem der Strahl nicht zerstört und nur unwesentlich beeinflusst wird.

**[[System Description]]**,

System Description -> {{:projects:ipm-sis:0_systembeschreibung_ipm_im_sis.pdf|}},

HV-System -> {{:projects:ipm-sis:2_hv_system.pdf|}}, 

DAQ Data Acquisition -> {{:projects:ipm-sis:3_daq_data_acquisition.pdf|}}, 

DAN Data Analysis -> {{:projects:ipm-sis:4_dan_dataanalysis.pdf|}}, 

MCP Fast Switching  -> {{:projects:ipm-sis:7_mcp_fast_switching.pdf|}}, 

Magnetic Field -> {{:projects:ipm-sis:8_magnetic_field.pdf|}}

**System Components**

//__Mechanical Hardware:__// HV-Box, Particle Detector, CCD Camera, UV Calibration, Vacuum Tank

//__Software:__// 

Current: [[RGM_SIS 2.1]] (RGM in SIS), MBS (Multi Branch System) see http://www-win.gsi.de/daq/ 


{{:projects:0_ipm_view_onflange_camuv_ii.jpg|}}

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